INAOE :: Óptica :: Investigadores

Dr. Félix Aguilar Valdéz faguilar@inaoep.mx Tel.:+(52)-(2) 266-3100 / 247-2011, Ext. 2213 Fax:+(52)-(2) 247-2940 Edificio "2", 1er Piso, Cubículo No. 2213

• Microscopía de alta resolución
• Microscopía confocal
• Difracción de campo cercano
• Teoría de la formación de imágenes microscópicas
  
  

• Óptica física
• Nuevas técnicas de microscopía óptica
  
  

• Doctorado en Ciencias, especialidad en Óptica.
  
• Métodos Rigurosos en Esparcimiento de Luz y su Aplicación
  en Microscopía. CICESE (1994), Ensenada, B.C., México.
  
  
• Maestría en Ciencias, especialidad en Óptica. La Validez
  de la Aproximación de Kirchoff en Microscopía de Superficies. CICESE (1989),
  Ensenada, B.C., México.
  
  
• Licenciatura en Física. Cálculo de Energías de Defectos
  en Cristales Iónicos de Dos y Tres Componentes. Universidad Nacional Autónoma
  de México (1980), Distrito Federal, México.
  

Actividades profesionales