Óptica

Dr. Felix Aguilar Valdez

Investigador Titular B

Cubículo: 2213                                                                          
Teléfono: +52 (222) 266 3100 ext. 2213
Correo electrónico: faguilar@inaoep.mx 

Líneas de Investigación:

1.  Microscopía de alta resolución 
2.  Microscopía confocal 
3.  Difracción de campo cercano
4.  Imagenes Microscopicas

Información Curricular:

• Doctorado en Ciencias, especialidad en Óptica.
  "Metodos Rugosos en Esparciminetos de la Luz y su Apliacación en Microscopia".
  Cicese, Ensenada, B.C. México, 1994.
• Maestría en Ciencias, especialidad en Óptica.
  "La Validez de la Aproximación de Kirchoff en Microscopía de Superficies".
  Cicese, Ensenada, B.C; México, 1989.

Publicaciones Recientes:

• 3D thickness map reconstruction of dielectric thin films using scattering of surface plasmon polaritons
  Cesar E. García-Ortiz, Rodolfo Cortes, Robin Orejel, Raul Hernandez-Aranda, Israel Martínez-López, Félix Aguilar, Víctor Coello.
  Optics Letters, 43, 4, (2018), 691-694. DOI: 10.1364/OL.43.000691.
• Focus measure method based on the modulus of the gradient of the color planes for digital microscopy
  Román Hurtado-Pérez, Carina Toxqui-Quitl, Alfonso Padilla-Vivanco, J. Félix Aguilar-Valdez, and Gabriel Ortega-Mendoza.
  Optics Engineering, 57, (2), (2018), 023106-1-023106-11. DOI: 10.1117/1.OE.57.2.023106.